北京金三航科技发展有限公司 / 2011-06-10
测试管脚数:256
测试适用范围:
元器件测试-适用于多种类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试
电路板测试-适用多种电路板的检测(附加测试电缆线和多种封装的测试夹)
测试原理(v-i曲线测试):
对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。
被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。
测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。
集成电路测试操作如此简单:
1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
2.将集成电路插入测试座.
3.执行测试
4.得到PASS或FAIL的测试结果.
不需要电子专业知识.
适用于集成电路/封装件.及多种类型电路板
灵活、好安装、宜操作.
测试结果直接: PASS或FAIL.
软件可设定多种测试条件.
可提供元件测试分析报告.
适合不同封装形式的元件:
-双列插脚(DIL)
-小型封装集成集成电路(SOIC)
-小型封装(SSOP, TSOP)
-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
-球门阵列封装(BGA)
注意: AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于各个模块。
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