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某研究中心测试案例-LM124J故障器件测试报告
北京金三航科技发展有限公司 / 2012-05-14
Test Summary
| Device: | LM124J |
|---|---|
| Package: | 14 pin DIL narrow |
| Scan Profile: | Low V Analogue |
| Overall Result: | FAIL |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 20 March 2012 |
| Pin Summary | |||||||||||||||||||||||||||||||||
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| Detailed Pin Analysis | |
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| Pin 1: SUCCESS  |
Pin 2: SUCCESS  |
| Pin 4: SUCCESS  |
Pin 5: SUCCESS  |
| Pin 6: SUCCESS  |
Pin 7: SUCCESS  |
| Pin 9: SUCCESS  |
Pin 10: SUCCESS  |
| Pin 11: SUCCESS  |
Pin 12: SUCCESS  |
| Pin 13: SUCCESS  |
Pin 14: SUCCESS  |
| Pin 3: FAIL  |
Pin 8: FAIL  |
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