Search

>>高级搜索

相关商品

浏览历史

HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告

北京金三航科技发展有限公司 / 2021-04-14

测试设备:电路板故障测试仪BM8600

使用模块:可编程电源+三维立体V-I-F曲线阻抗测试模块
测试内容:HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告
测试结果:失败
 
 HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告
HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告
HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告
HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告
HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告
HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告
HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告
HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告
 
 
HCPL-6751高速光耦偶发性故障的对比测试报告
测试结果分析:
 
1、图1说明国产器件与进口器件在相同频率下开关时间特性不同;
2、图2说明国产器件导通电压下限为1.12V;进口器件导通电压下限为1.4V;国产器件导通电压过低有可能会导致误触发。
3、在测试过程中,国产器件出现第3组光耦偶发性故障,施加触发电压后光耦无输出。
 

上一篇:某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件测试报告

技术问答

暂时还没有任何用户评论

我要提问

用户名 匿名用户
电子邮件地址
评价等级
验证码 captcha
  Reset